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          Bruker D8 ADVANCE x射線(xiàn)衍射儀

          簡(jiǎn)要描述:基于D8衍射儀系列平臺(tái)的D8 ADVANCE,是所有X射線(xiàn)粉末衍射和散射應(yīng)用的理想之選,如:

          典型的X射線(xiàn)粉末衍射(XRD)

          對(duì)分布函數(shù)(PDF)分析

          小角X射線(xiàn)散射(SAXS)和廣角X射線(xiàn)散射(WAXS)

          由于具有出色的適應(yīng)能力,僅使用D8 ADVANCE,您就可對(duì)所有類(lèi)型的樣品進(jìn)行測(cè)量:從液體到粉末、從薄膜到固體塊狀物。

          無(wú)論是新手用戶(hù)還是專(zhuān)家用戶(hù),都可簡(jiǎn)單快捷、不出錯(cuò)地對(duì)配置進(jìn)行更

          • 所在城市:上海市
          • 廠商性質(zhì):代理商
          • 更新日期:2025-04-22
          • 訪  問(wèn)  量:366
          詳細(xì)介紹
          品牌Bruker/布魯克價(jià)格區(qū)間150萬(wàn)-200萬(wàn)
          儀器種類(lèi)單晶衍射儀應(yīng)用領(lǐng)域綜合

          Bruker D8 ADVANCE x射線(xiàn)衍射儀

          D8 ADVANCE 規(guī)格:

          功能

          規(guī)格

          優(yōu)勢(shì)

          TRIO 光路和TWIN光路

          軟件按鈕切換:

          馬達(dá)驅(qū)動(dòng)發(fā)散狹縫(BB幾何)

          高強(qiáng)度Ka1,2平行光束

          高分辨率Ka1平行光束

          可在多達(dá)6種不同的光束幾何之間進(jìn)行全自動(dòng)化電動(dòng)切換,無(wú)需人工干預(yù)

          是所有類(lèi)型的樣品分析的理想之選,包括粉末、塊狀材料、纖維、片材和薄膜(非晶、多晶和外延)

          動(dòng)態(tài)光束優(yōu)化

          動(dòng)態(tài)同步:

          馬達(dá)驅(qū)動(dòng)發(fā)散狹縫

          馬達(dá)驅(qū)動(dòng)防散射屏

          可變探測(cè)器窗口

          2?角度范圍:小于1度至>大于150度

          數(shù)據(jù)幾乎不受空氣、儀器和樣品架散射的影響

          大大提高了檢測(cè)下限,可定量分析少量晶相和非晶相

          在較小的2θ角度,可對(duì)粘土、藥物、沸石、多孔材料及其他材料進(jìn)行精確研究

          LYNXEYE XE-T

          能量分辨率:<380 eV @ 8 KeV

          檢測(cè)模式:0D、1D、2D

          波長(zhǎng):Cr、Co、Cu、Mo和Ag

           

          無(wú)需K?濾波片和二級(jí)單色器

          銅輻射即可100%過(guò)濾鐵熒光

          速度比傳統(tǒng)探測(cè)器系統(tǒng)快450倍

          BRAGG 2D模式:使用發(fā)散的初級(jí)線(xiàn)束收集2D數(shù)據(jù)

          探測(cè)器保證:交貨時(shí)無(wú)壞道

          EIGER2 R

          Dectris 公司開(kāi)發(fā)的基于混合光子計(jì)數(shù)技術(shù)的新一代探測(cè)器,支持多種模式(0D / 1D / 2D)

          在步進(jìn)掃描、連續(xù)掃描和高級(jí)掃描模式中無(wú)縫集成0D、1D和2D檢測(cè)

          符合人體工程學(xué)的免對(duì)準(zhǔn)探測(cè)器旋轉(zhuǎn)功能,可優(yōu)化γ或2?角度范圍

          使用完整的探測(cè)器視野、免工具全景衍射光束光學(xué)系統(tǒng) 

          連續(xù)可變的探測(cè)器位置,以平衡角度范圍和分辨率

          旋轉(zhuǎn)光管

          在線(xiàn)焦斑和點(diǎn)焦斑應(yīng)用之間輕松快捷地進(jìn)行免對(duì)準(zhǔn)切換

          無(wú)需斷開(kāi)電纜或水管,無(wú)需拆卸管道

          DAVINCI設(shè)計(jì):全自動(dòng)檢測(cè)和配置聚焦方向

          自動(dòng)進(jìn)樣器

          FLIPSTICK:9個(gè)樣品

          AUTOCHANGER:90個(gè)樣品

          在反射和透射幾何中運(yùn)行

          D8 測(cè)角儀

          帶獨(dú)立步進(jìn)電機(jī)和光學(xué)編碼器的雙圓測(cè)角儀

          布魯克準(zhǔn)直保證,確保了準(zhǔn)確性和精確度

          免維護(hù)的驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)/齒輪裝置,終身潤(rùn)滑

          非環(huán)境條件

          溫度:從~85K到~2500K

          壓力:10-?mbar至100 bar

          濕度:5%至95%

          在環(huán)境和非環(huán)境條件下進(jìn)行研究

          DIFFRAC設(shè)計(jì)助您輕松更換樣品臺(tái)

           

          基于D8衍射儀系列平臺(tái)的D8 ADVANCE,是所有X射線(xiàn)粉末衍射和散射應(yīng)用的理想之選,如:

          • 典型的X射線(xiàn)粉末衍射(XRD)

          • 對(duì)分布函數(shù)(PDF)分析

          • 小角X射線(xiàn)散射(SAXS)和廣角X射線(xiàn)散射(WAXS)

          由于具有出色的適應(yīng)能力,僅使用D8 ADVANCE,您就可對(duì)所有類(lèi)型的樣品進(jìn)行測(cè)量:從液體到粉末、從薄膜到固體塊狀物。

          無(wú)論是新手用戶(hù)還是專(zhuān)家用戶(hù),都可簡(jiǎn)單快捷、不出錯(cuò)地對(duì)配置進(jìn)行更改。這都是通過(guò)布魯克的DAVINCI設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)的:配置儀器時(shí),免工具、免準(zhǔn)直,同時(shí)還受到自動(dòng)化的實(shí)時(shí)組件識(shí)別與驗(yàn)證的支持。

           

          應(yīng)用范圍:

          相鑒定:材料可靠性鑒別(PMI)最為常見(jiàn),這是因?yàn)槠鋵?duì)原子結(jié)構(gòu)十分靈敏,而這無(wú)法通過(guò)元素分析技術(shù)實(shí)現(xiàn)。

          定量相分析:方法包括EVA軟件半定量分析、DQUANT軟件面積法分析和DIFFRACTOPAS軟件全譜擬合分析法

          非環(huán)境 XRD:可以在DIFFRAC.WIZARD中配置溫度曲線(xiàn)并將其與測(cè)量同步,然后可以在DIFFRAC.EVA中顯示結(jié)果

          織構(gòu)分析:在DIFFRAC.TEXTURE軟件中,使用球諧函數(shù)和組分分析方法,生成極圖、取向分布函數(shù)(0DF)和體積定量分析。

          殘余應(yīng)力分析:在DIFFRAC.LEPTOS中分析鋼部件的殘余應(yīng)力:通過(guò)sin2psi方法,使用Cr輻射測(cè)量得到。

          X射線(xiàn)反射法(XRR):在DIFFRAC.LEPTOS中,對(duì)多層樣品的薄膜厚度、界面粗糙度和密度進(jìn)行XRR分析。

          小角X射線(xiàn)散射(SAXS):在DIFFRAC.SAXS中,對(duì)EIGER2R500K通過(guò)2D模式收集的NIST標(biāo)樣SRM 80119nm金納米顆粒進(jìn)行粒度分析。


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