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x射線衍射儀電流面內隧穿測試儀橢偏儀紅外光譜臺階儀摩擦磨損試驗機光學輪廓儀納米壓痕儀原子力顯微鏡查看全部產品

TS 77 Select布魯克BRUKER納米壓痕儀

布魯克BRUKER納米壓痕儀TS 77 Select精選是自動化臺式納米力學和納米摩擦測試系統，可提供同類儀器的性能、多功能和易用性。這種新型測試系統以布魯克的TriboScope電容式傳感器技術為設計，在納米至微米尺度上提供可靠的力學和摩擦學表征。TS 77 精選支持最主流的測試模式，是定量納米壓痕、動態納米壓痕、納米劃痕、納米摩擦磨損和高分辨力學性能成像的高性價比解決方案。

更新日期：2024-12-02訪問量：2812廠商性質：代理商
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Dimension FastScanBRUKER原子力顯微鏡

為滿足AFM使用者對提高AFM使用效率的需求，Bruker開發了BRUKER原子力顯微鏡Dimension FastScan，不降低分辨力，不增加設備復雜性，不影響儀器操作成本的前提下，幫助用戶實現了利Dimension快速掃描系統，即時快速得到高分辨高質量AFM圖像的愿望。

更新日期：2024-12-02訪問量：2739廠商性質：代理商
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布魯克掃描探針顯微鏡Dimension XR

布魯克掃描探針顯微鏡Dimension XR（SPM）系統攘括了原子力顯微鏡數十年來的研究和技術創新。通過常規的真原子相分辨率，以及一系列*的技術，包括峰值力輕敲模式、數據立方體模式、SECM和AFM-nDMA，Dimesnion XR系統可提供性能和功能。Dimension XR 系列將這些技術整合提供完整的解決方案，以滿足納米力學、納米電氣和納米電化學應用的需求。在空氣、流體、電氣或

更新日期：2024-12-02訪問量：2576廠商性質：代理商
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NanoWizard 4 XPbruker生物型原子力顯微鏡

bruker生物型原子力顯微鏡NanoWizard 4 XP特點： ·高分辨定量成像 ·150Hz快速掃描助力動態變化過程研究 ·與精密先進光學顯微鏡結合 ·新一代基于工作流程的軟件革新 ·靈活易用的模塊化設計與大量模塊的拓展性

更新日期：2024-12-02訪問量：2833廠商性質：代理商
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Innova SPM布魯克bruker掃描探針顯微鏡

布魯克bruker掃描探針顯微鏡Innova SPM體積較小，成本適中，為科學研究提供了嚴謹而靈活的解決方案。其*的閉環掃描系統既確保了高的測試精度，又可以實現與開環測試相媲美的噪聲水平。高分辨率的彩色光鏡、開放式樣品臺和強大的測試軟件使實驗變得便捷省時。Innova 致力于高分辨成像，在物理學、生命科學和材料科學等研究中發揮著重要作用。

更新日期：2024-12-01訪問量：2216廠商性質：代理商
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