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Bruker 橢偏儀 FilmTek 2000M TSV

Bruker 橢偏儀 FilmTek 2000M TSV FilmTek™ 2000M TSV計量系統為先進的半導體封裝應用提供了速度和精度組合。該系統為各種封裝工藝和相關結構的高通量測量提供了測量性能和精度，包括表征抗蝕劑厚度、硅通孔（TSV）、銅柱、凸塊和再分布層（RDL）。

更新日期：2024-12-02訪問量：2876廠商性質：代理商
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Bruker橢偏儀 FilmTek 6000 PAR-SE

Bruker橢偏儀 FilmTek 6000 PAR-SE FilmTek™ 6000標準桿數-SE先進的多模薄膜計量系統在1x nm設計節點和更高的位置為廣泛的薄膜層提供生產驗證的薄膜厚度、折射率和應力測量監測。該系統能夠在新一代集成電路的生產過程中實現更嚴格的過程控制，提高器件產量，并支持下一代節點技術的開發。

更新日期：2024-12-02訪問量：2993廠商性質：代理商
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Bruker 全自動原子力顯微鏡 InSight CAP

Bruker 全自動原子力顯微鏡 InSight CAP ——緊湊型高性能剖面儀和AFM

更新日期：2024-12-02訪問量：2891廠商性質：代理商
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Bruker 全自動原子力顯微鏡 InSight AFP

bruker 全自動原子力顯微鏡 InSight AFP ——第五代AFP具有業界高的分辨率、快的成型速度和快速的3D模具映射

更新日期：2024-12-02訪問量：3911廠商性質：代理商
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Bruker布魯克 XRD JV-QCVelox X射線衍射儀

Bruker布魯克 JV-QCVelox X射線衍射儀 XRD$n$n——用于 LED 和外延層晶圓分析的生產專用高分辨率 X 射線衍射系統

更新日期：2025-01-15訪問量：7927廠商性質：代理商
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